双缝干涉实验中，狭缝后探测器是什么?

1. 狭缝后探测器是一种用于双缝干涉实验中的仪器。

2. 在双缝干涉实验中，光线通过两个狭缝后会形成干涉条纹，狭缝后探测器用于检测这些干涉条纹的位置和强度。

它可以记录下光的干涉模式，帮助我们更好地理解光的波动性质。

3. 狭缝后探测器可以用于其他的干涉实验中，如杨氏双缝干涉实验和薄膜干涉实验等。

它的应用不仅仅局限于光学领域，还可以用于其他领域的干涉实验中。

狭缝后的探测器可以是荧光屏、照相底片、电子探测器等。荧光屏的原理是在被光照射后，会发出光，形成图案。照相底片则是利用光敏效应记录下光的干涉图案。电子探测器则是通过检测电子的运动情况来记录干涉图案。

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